探针的材质：W,ReW,CU、 A+

1、主要采用的材质为W,ReW, 弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。

2、A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。

A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品；

B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品；

C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。

探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针：劈刀型（Blade Type）和环氧树脂型（Epoxy Type）

垂直探针：垂直型（Vertical Type）

1、ICT探针　（ICT series Probes）

一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试．也称ICT测试和FCT测试．也是目应用较多的一种探针．

2、界面探针(Interface Probes)

非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达（Teradyne）和安捷伦（Agilent）．用于测试机台与测试夹具的接触点和面．

3、微型探针（MicroSeries Probes）

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm．

4、开关探针（Switch Probes）

开关探针单独一支探针有两路电流．

5、高频探针（Coaxial Probes）

用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的．

6、旋转探针（Rotator Probes）

弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试．

7、高电流探针（High Current Probes）

探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amPS.

8、半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9、电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长．

10、汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测,直径在1.0——3.5mm之间,电流在3————50A

除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用。