edx 4500h x荧光光谱仪是利用xrf检测原理实现对各种元素  成份进行快速、准确、无损分析。 
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对si、p、s、al、mg等轻元素  具有良好的激发效果，利用xrf技术可对高含量的cr、ni、mo等重点关注的元素  进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素  分析、有害元素  检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗x光管，指标达到国际先进水平 
最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。在合金检测中效果更好
sdd硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 
低能x射线激发待测元素  ，对si、p等轻元素  激发效果好 
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素  的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素  间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：edx 4500h
产品名称：x荧光光谱仪 
测量元素  范围：从钠（na）到铀（u）
元素  含量分析范围： ppm—99.99％（不同元素  ，分析范围不同） 
同时分析元素  ：一次性可测几十种元素   
测量时间：30秒-200秒 
探测器能量分辨率为：145±5ev
管压：5kv-50kv 
管流：50μa-1000μa
测量对象状态：粉  末、固体、液体
输入电压：ac 110v/220v
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35％-70％
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65kg

标准配置

高效超薄窗x光管 
sdd硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安  全保护模式 
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素  分析、有害元素  检测（rohs、卤素  ）